
01.产品特色
·MV-GEL20I使用InGaAs传感器,支持900-1700nm波段,将可见光和SWIR响应波段融合在一台相机上,实现了一机双用,显著扩展了检测对象的领域和范围
·行频最高可达40K,软件自由设定
·核心器件国产化设计,打破进口依赖,保障供应链安全与成本可控
·支持编码器信号的分频与倍频,与运动平台精确匹配
·支持编码器同步触发、光电传感器与编码器组合同步触发等多种触发模式
·硬件支持水平方向的像素ROI和垂直方向任意行(不超过规定上限)的自动拼接功能
02.光谱图
03.产品参数
MV-GEL20I | |
黑白/彩色 | SWIR |
传感器类型 | InGaAs |
传感器尺寸 | 12.8× 0.025mm |
像元尺寸 | 12.5umx12.5um |
有效像素 | 2048×1 |
灵敏度 | ≥0.8A/W |
最大行频 | 40KHz |
曝光时间 | 0.005-50ms |
触发模式 | 连续/软件触发/帧触发/行触发/
最大行频 条件行触发 |
04.应用案例
光伏板隐裂检测:
晶体硅太阳电池生产中会出现隐裂、划伤等影响效率和寿命的缺陷,这些缺陷通常难以用肉眼或可见光检测。利用电致发光(EL)和光致发光(PL)特性,可通过施加正向偏压或激光照射,使电池片发出短波红外光。缺陷区域的发光与正常区域不同,因此可用短波红外相机检测激发状态下的电池片,有效识别内部缺陷。
05.产品应用
![]() 光伏面板检测 |
![]() 塑料检测 |
![]() PCB检测 |
![]() 平板显示检测 |
